.晶体振荡器 1.通常只能用示波器(晶振需加电)或频率计测试,万用表等无法测量, 否则只能采用代换法了. 2.晶振常见故障有:a.内部漏电,b.内部开路c.变质频偏d.外围相连电 容漏电.这里漏电现象,用的VI曲线应能测出. 3.整板测试时可采用两种判断方法:a.测试时晶振附近既周围的有关 芯片不通过.b.除晶振外没找到其它故障点. 4.晶振常见有2种:a.两脚.b.四脚,其中第2脚是加电源的,注意不可随 意短路.
MM56E_
MM56E-MCM
MM56E-MCMR
MM56E-MCMXT
MM56E-MNET
MM56E-MNETC
MM56E-MNETCR
MM56E-MNETCXT
MM56E-MNETR
MM56E-MNETXT
MM56E-SIE
MM56E-SMGC
lLX56-PBM
ILX56-PBS
CLX-APACS
lLX34-MBS232
lLX34-MBS485
DEVKIT
3170-MBS
MM46-ADM
MV46-ADMNET
MM46-DFCM
MM46-DFNT
MM56-101M
MM56-101S
MV56-104S
MV56-ADM
MV56-BAS
MV56-DNP
MV56-EGD
MV56-LTQ
MV56-PDPMV1
MM56-S3964R
MM69-104S
MM69-ADM
MM69-DFNT
MM69-DNP
MM69-DNPSNET
MV69-EGD
MV69-FLN我司主营优势品牌系列:
AB: 1757、1756、1747、1746、1769、1734、1794、2711P
GE: IC200、IC693、IC694、IC695、IC697
施耐德:140系列 BME系列 BMX系列
西门子:6ES7200、300系列
基恩士:FS、IV、LK、GT2系列
ABB:DCS系统、机器人系统
福克斯波罗、 欧姆龙、三菱、富士、韩国LS产电、台达
品名:模块、PLC、变频器、触摸屏、机架、电源、软启动、处理器
一.带程序的芯片 1.EPROM芯片一般不宜损坏.因这种芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 故在测试中不会损坏程序.但有资料介绍:因制作芯片的材料所致,随着 时间的推移(年头长了),即便不用也有可能损坏(主要指程序).所以要 尽可能给以备份. 2.EEPROM,SPROM等以及带电池的RAM芯片,均极易破坏程序.这类芯片 是否在使用进行VI曲线扫描后,是否就破坏了程序,还未有定 论.尽管如此,同仁们在遇到这种情况时,还是小心为妙.笔者曾经做过 多次试验,可能大的原因是:检修工具(如测试仪,电烙铁等)的外壳漏电 所致. 3.对于电路板上带有电池的芯片不要轻易将其从板上拆下来.